Normennummer: YS/T 742-2010(YS/T742-2010)
Chinesisch:氧化镓化学分析方法 杂质元素的测定 电感耦合等离子体质谱法
Deutsch:Chemische Analyse von Galliumoxid Bestimmung von Verunreinigungselementen Induktiv gekoppelte Plasma-Massenspektrometrie
Wirksamkeitsdatum:2011-03-01
Standardanwendbarkeit:
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