Normennummer: YS/T 666-2008(YS/T666-2008)
Chinesisch:工业镓化学分析方法 杂质元素的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
Deutsch:Chemische Analysemethoden für industrielles Gallium Bestimmung von Verunreinigungselementen Atomemissionsspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma
Wirksamkeitsdatum:2008-09-01
Standardanwendbarkeit:
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