Normennummer: YS/T 1164-2016(YS/T1164-2016)
Chinesisch:硅材料用高纯石英制品中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法
Deutsch:Bestimmung von Verunreinigungen in hochreinen Quarzprodukten für Siliziummaterialien Induktiv gekoppelte Plasma-Emissionsspektrometrie
Wirksamkeitsdatum:2017-01-01
Standardanwendbarkeit:
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