Normennummer: YS/T 1158.1-2016(YS/T1158.1-2016)
Chinesisch:铜铟镓硒靶材化学分析方法 第1部分：镓量和铟量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
Deutsch:Chemische Analyseverfahren für Kupfer-Indium-Gallium-Selenid-Targets – Teil 1: Bestimmung von Gallium und Indium Atomemissionsspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma
Wirksamkeitsdatum:2017-01-01
Standardanwendbarkeit:
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