YD/T 3037.1.1-2016 Prüfverfahren für USB-Schnittstellenmerkmale zwischen universeller integrierter Schaltkreiskarte (UICC) und Endgerät Teil 1: Endgerät

Normennummer: YD/T 3037.1.1-2016(YD/T3037.1.1-2016)
Chinesisch:通用集成电路卡(UICC) 与终端间USB接口特性测试方法 第1部分:终端
Deutsch:Prüfverfahren für USB-Schnittstellenmerkmale zwischen universeller integrierter Schaltkreiskarte (UICC) und Endgerät Teil 1: Endgerät

Wirksamkeitsdatum:2016-07-01
Standardanwendbarkeit:

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