Normennummer: YB/T 172-2020(YB/T172-2020)
Chinesisch:硅砖定量相分析 X射线衍射法
Deutsch:Quantitative Phasenanalyse von Silikatsteinen Röntgenbeugungsmethode
Wirksamkeitsdatum:2021-04-01
Standardanwendbarkeit:Diese Norm legt das Prinzip der quantitativen Phasenanalyse von α-Quarz in Quarzsteinen Röntgenbeugungsmethode, Instrumentierung, Standardprobe, Probenvorbereitung, die Erstellung der Standardkurve, Prüfschritte, Ergebnisse und Berechnungen und Prüfberichte fest. Diese Norm gilt für die quantitative Phasenanalyse von α-Quarz in Quarzsteinen, und die quantitative Phasenanalyse von Plattenquarz und Quarz in Quarzsteinen kann sich auch auf diese Norm beziehen.
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