SY/T 7410.2-2020 Methoden zur Bestimmung der dreidimensionalen Porenstruktur in Gesteinen Teil 2: Focused Ion Beam Slicing Methode

Normennummer: SY/T 7410.2-2020(SY/T7410.2-2020)
Chinesisch:岩石三维孔隙结构测定方法 第2部分:聚焦离子束切片法
Deutsch:Methoden zur Bestimmung der dreidimensionalen Porenstruktur in Gesteinen Teil 2: Focused Ion Beam Slicing Methode

Wirksamkeitsdatum:2021-02-01
Standardanwendbarkeit:

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