Normennummer: SJ/T 2658.1-2015(SJ/T2658.1-2015)
Chinesisch:半导体红外发射二极管测量方法 第1部分：总则
Deutsch:Messverfahren für infrarot-emittierende Halbleiterdioden – Teil 1: Allgemeine Bestimmungen
Wirksamkeitsdatum:2016-04-01
Standardanwendbarkeit:
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