SJ/T 11766-2020 Prüfverfahren für niederfrequente Rauschparameter von optischen Kopplungseinrichtungen

Normennummer: SJ/T 11766-2020(SJ/T11766-2020)
Chinesisch:光电耦合器件低频噪声参数测试方法
Deutsch:Prüfverfahren für niederfrequente Rauschparameter von optischen Kopplungseinrichtungen

Wirksamkeitsdatum:2021-04-01
Standardanwendbarkeit:

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