SJ/T 11706-2018 Integrierte Halbleiterschaltungen Feldprogrammierbares Gate-Array Testverfahren

Normennummer: SJ/T 11706-2018(SJ/T11706-2018)
Chinesisch:半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
Deutsch:Integrierte Halbleiterschaltungen Feldprogrammierbares Gate-Array Testverfahren

Wirksamkeitsdatum:2018-04-01
Standardanwendbarkeit:

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