Normennummer: SJ/T 11489-2015(SJ/T11489-2015)
Chinesisch:低位错密度磷化铟抛光片蚀坑密度的测量方法
Deutsch:Messung der Ätzgrubendichte in polierten Indiumphosphid-Chips mit geringer Versetzungsdichte
Wirksamkeitsdatum:2015-10-01
Standardanwendbarkeit:
Als PDF herunterladbar: N
