SJ/T 11210-1999 Messung der Parameter von Quarzkristallelementen – Teil 4: Messverfahren für die Lastresonanzfrequenz fL und den Lastresonanzwiderstand RL von Quarzkristallelementen bis 30MHz und Berechnung anderer abgeleiteter Parameter

Normennummer: SJ/T 11210-1999(SJ/T11210-1999)
Chinesisch:石英晶体元件参数的测量 第4部分：频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算
Deutsch:Messung der Parameter von Quarzkristallelementen – Teil 4: Messverfahren für die Lastresonanzfrequenz fL und den Lastresonanzwiderstand RL von Quarzkristallelementen bis 30MHz und Berechnung anderer abgeleiteter Parameter

Wirksamkeitsdatum:1999-12-01
Standardanwendbarkeit:

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