SJ/T 10482-1994 Transient-Kapazitäts-Testverfahren für tiefe Energieniveaus in Halbleitern

Normennummer: SJ/T 10482-1994(SJ/T10482-1994)
Chinesisch:半导体深能级的瞬态电容测试方法
Deutsch:Transient-Kapazitäts-Testverfahren für tiefe Energieniveaus in Halbleitern

Wirksamkeitsdatum:1994-10-01
Standardanwendbarkeit:

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