SJ/T 10415-1993 Testmethode für das schnelle Screening von thermischen Transistorparametern

Normennummer: SJ/T 10415-1993(SJ/T10415-1993)
Chinesisch:晶体管热敏参数快速筛选试验方法
Deutsch:Testmethode für das schnelle Screening von thermischen Transistorparametern

Wirksamkeitsdatum:1994-06-01
Standardanwendbarkeit:

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