Normennummer: GB/T 4937.1-2006
Chinesisch:半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分: 总则
Deutsch:Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 1: Allgemeines
Wirksamkeitsdatum:2007-02-01
Regulierungsbehörde:Ministerium für Industrie und Informationstechnologie (Elektronik)
Regulierungsbehörde, die die Erlaubnis ausstellt:Allgemeine Verwaltung für Qualitätsüberwachung, Inspektion und Quarantäne der Volksrepublik China (General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People’s Republic of China),Verwaltung für Normung in China (SAC)
Erfüllt internationale Standards:Y
Als PDF herunterladbar:N
