Normennummer: GB/T 42676-2023 (GB/T42676-2023)
Chinesisch:半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法
Deutsch:Prüfverfahren für die kristalline Qualität eines halbleitenden Einkristalls – Röntgenbeugungsmethode
Wirksamkeitsdatum:2024-03-01
Regulierungsbehörde:Nationale Verwaltung für Normung in China
Regulierungsbehörde, die die Erlaubnis ausstellt:Staatliche Verwaltung für Marktaufsicht und Verwaltung,Nationale Verwaltung für Normung in China
Erfüllt internationale Standards:N
Als PDF herunterladbar:Y
