GB/T 27760-2011 Prüfverfahren zur Kalibrierung der z-Vergrößerung eines Rasterkraftmikroskops auf Subnanometer-Verschiebungsebenen unter Verwendung monatomarer Si(111)-Stufen

Normennummer: GB/T 27760-2011
Chinesisch:利用Si（111）晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法
Deutsch:Prüfverfahren zur Kalibrierung der z-Vergrößerung eines Rasterkraftmikroskops auf Subnanometer-Verschiebungsebenen unter Verwendung monatomarer Si(111)-Stufen

Wirksamkeitsdatum:2012-05-01
Regulierungsbehörde:Chinesische Akademie der Wissenschaften
Regulierungsbehörde, die die Erlaubnis ausstellt:Allgemeine Verwaltung für Qualitätsüberwachung, Inspektion und Quarantäne der Volksrepublik China (General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People’s Republic of China),Verwaltung für Normung in China (SAC)

Erfüllt internationale Standards:Y
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