Normennummer: GB/T 24576-2009
Chinesisch:高分辩率X射线衍射测量GaAs衬底生长的AlGaAs中Al成分的试验方法
Deutsch:Testverfahren zur Messung des Al-Anteils in AlGaAs auf GaAs-Substraten durch hochauflösende Röntgenbeugung
Wirksamkeitsdatum:2010-06-01
Regulierungsbehörde:Nationale Verwaltung für Normung in China
Regulierungsbehörde, die die Erlaubnis ausstellt:Allgemeine Verwaltung für Qualitätsüberwachung, Inspektion und Quarantäne der Volksrepublik China (General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People’s Republic of China),Verwaltung für Normung in China (SAC)
Erfüllt internationale Standards:Y
Als PDF herunterladbar:N
