Normennummer: GB/T 22572-2008
Chinesisch:表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法
Deutsch:Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Verfahren zur Schätzung der Tiefenauflösungsparameter mit mehreren Delta-Schicht-Referenzmaterialien
Wirksamkeitsdatum:2009-10-01
Regulierungsbehörde:Nationale Verwaltung für Normung in China
Regulierungsbehörde, die die Erlaubnis ausstellt:Allgemeine Verwaltung für Qualitätsüberwachung, Inspektion und Quarantäne der Volksrepublik China (General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People’s Republic of China),Verwaltung für Normung in China (SAC)
Erfüllt internationale Standards:Y
Als PDF herunterladbar:N
