Normennummer: GB/T 22462-2008
Chinesisch:钢表面纳米、亚微米尺度薄膜 元素深度分布的定量测定 辉光放电原子发射光谱法
Deutsch:Nano-, Submikron-Schichten auf Stahl – Quantitative Tiefenprofilanalyse – Glimmentladungs-Atomemissionsspektrometrie
Wirksamkeitsdatum:2009-06-01
Regulierungsbehörde:Nationale Verwaltung für Normung in China
Regulierungsbehörde, die die Erlaubnis ausstellt:Allgemeine Verwaltung für Qualitätsüberwachung, Inspektion und Quarantäne der Volksrepublik China (General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People’s Republic of China),Verwaltung für Normung in China (SAC)
Erfüllt internationale Standards:N
Als PDF herunterladbar:Y
