Normennummer: GB/T 20176-2006
Chinesisch:表面化学分析 二次离子质谱 用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度
Deutsch:Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Bestimmung der atomaren Borkonzentration in Silizium mit gleichmäßig dotierten Materialien
Wirksamkeitsdatum:2006-11-01
Regulierungsbehörde:Nationale Verwaltung für Normung in China
Regulierungsbehörde, die die Erlaubnis ausstellt:Allgemeine Verwaltung für Qualitätsüberwachung, Inspektion und Quarantäne der Volksrepublik China (General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People’s Republic of China),Verwaltung für Normung in China (SAC)
Erfüllt internationale Standards:Y
Als PDF herunterladbar:N
