Normennummer: GB/T 17473.2-2008
Chinesisch:微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定
Deutsch:Prüfverfahren für Edelmetallpasten zur Verwendung in der Mikroelektronik – Bestimmung des Feingehalts
Wirksamkeitsdatum:2008-09-01
Regulierungsbehörde:Verband der chinesischen Nichteisenmetallindustrie
Regulierungsbehörde, die die Erlaubnis ausstellt:Allgemeine Verwaltung für Qualitätsüberwachung, Inspektion und Quarantäne der Volksrepublik China (General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People’s Republic of China),Verwaltung für Normung in China (SAC)
Erfüllt internationale Standards:N
Als PDF herunterladbar:Y
