Normennummer: GB/T 17293-2008
Chinesisch:缩微摄影技术 检查平台式缩微摄影机系统性能用的测试标板
Deutsch:Mikrografie – Planetarische Kamerasysteme – Testziel zur Überprüfung der Leistung
Wirksamkeitsdatum:2009-01-01
Regulierungsbehörde:Nationale Verwaltung für Normung in China
Regulierungsbehörde, die die Erlaubnis ausstellt:Allgemeine Verwaltung für Qualitätsüberwachung, Inspektion und Quarantäne der Volksrepublik China (General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People’s Republic of China),Verwaltung für Normung in China (SAC)
Erfüllt internationale Standards:Y
Als PDF herunterladbar:N
