Normennummer: GB/T 14031-1992
Chinesisch:半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
Deutsch:Allgemeine Grundsätze der Messmethoden der analogen Phasenschleife für integrierte Halbleiterschaltungen
Wirksamkeitsdatum:1993-08-01
Regulierungsbehörde:Ministerium für Industrie und Informationstechnologie (Elektronik)
Regulierungsbehörde, die die Erlaubnis ausstellt:Staatliches Büro für technische Überwachung
Erfüllt internationale Standards:N
Als PDF herunterladbar:Y
