Normennummer: GB/T 11685-2003
Chinesisch:半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
Deutsch:Messverfahren für Halbleiter-Röntgendetektorsysteme und Halbleiter-Röntgenspektrometer
Wirksamkeitsdatum:2004-01-01
Regulierungsbehörde:Nationale Verwaltung für Normung in China
Regulierungsbehörde, die die Erlaubnis ausstellt:Allgemeine Verwaltung für Qualitätsüberwachung, Inspektion und Quarantäne der Volksrepublik China (General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People’s Republic of China)
Erfüllt internationale Standards:Y
Als PDF herunterladbar:N
